半導体検査装置メーカーのアドバンテストは、半導体検査装置の品質維持に必要な統合品質情報システムのバッチ処理時間を、SAP HANAの導入によって約10分の1に短縮した。SAPジャパンが2020年4月7日に発表した。
半導体の動作をテストする装置などを扱うアドバンテストは、製品の品質を維持するため、市場での障害情報、工程内の不良情報、工場から出荷した製品の使用実績などのデータを「統合品質情報システム」に集約し、分析・活用している。
統合品質情報システムは当初、汎用データベース上で毎週末に1週間分のデータをバッチで処理していた。しかし、データ量の急増によって、週末の間に処理を完了できない恐れが出てきた。チューニングも試行錯誤したが、処理の複雑化やメンテナンス負荷の増大を招いた。
こうした経緯で、データベースをSAP HANAに移行した。現場への影響を最小限に抑えつつ短期間で効果を得られるように、既存システム全体の更改ではなく、SAP HANAをバッチ処理高速化エンジンとして使って処理時間を短縮する方針を立てた。PoC（概念実証）を経て採用した。
SAP HANAは、2019年4月から稼働させた。この結果、エンジンとしてのバッチ処理時間は、約10分の1になった。既存の汎用データベースとのデータ転送時間を含めても、半分を大幅に下回る時間短縮を実現した。
